激光衍射粒度分析儀

貝克曼庫爾特公司新一代 LS 13 320 XR 將激光衍射粒度分析儀提升到了一個(gè)更高的水平，升級版 PIDS 專(zhuān)技 術(shù)，優(yōu)化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高，結果更準確，再現性更 好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快、更可靠地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。并且新軟 件的操作界面更加直觀(guān)，僅需點(diǎn)擊幾次便可獲得您需要的數據。

LS 13 320 XR激光衍射粒度分析儀是一款全自動(dòng)、高準確性、高分辨率、高重現性以及操作非常簡(jiǎn)單的干濕兩用粒 度分析儀，采用全程Mie光散射理論并提供Fraunhofer理論模型。LS 13 320 XR配備有多種新型的樣品進(jìn)樣模塊， “即插即用"，滿(mǎn)足不同的分析要求，靈活便利；PIDS技術(shù)，真正實(shí)現 10nm粒徑測量；直觀(guān)的軟件和觸摸屏設計，大大簡(jiǎn)化了儀器的操作。LS 13 320 XR將為您開(kāi)啟全新的測量體驗！
超高分辨率
不論單峰、雙峰還是多峰，不論納米、微米還是納微米，均可實(shí)現高分 辨率的檢測
寬測量范圍：10nm-3500µm
提供真實(shí)（峰值）、高分辨率的測試數據，下限低至 10nm，上限高達 3500µm
升級版 PIDS 技術(shù)：更好解決納米測量挑戰
提高原始數據檢測精度，提高檢測器檢測垂直和水平偏振散射光的靈敏 度，真正實(shí)現亞微米級粒度分析 - 以往極難達到的測量能力
多峰自動(dòng)檢測
測量前無(wú)需估計粒度分布情況（比如多峰、窄分布），便可獲得真實(shí)的 測量結果
簡(jiǎn)單、直觀(guān)的操作軟件
• 從開(kāi)始測量到獲得結果僅需 2 次點(diǎn)擊
• 包含一個(gè)集成的光學(xué)常數數據庫
• 隨時(shí)向您通報有用的用戶(hù)診斷報告
• 精簡(jiǎn)的工作流不僅易于使用，更節省時(shí)間
數據完整性及合規性
FDA的《電子記錄和電子簽名規則》 （21 CFR 第 11 部分）規定了提交電 子文件的要求。選擇軟件的最高安全 等級，系統將自動(dòng)調節以下配置，以 符合該法規要求：
• 電子簽名
• 用戶(hù)安全登錄
• 用戶(hù)權限
• 審查跟蹤
• 錯誤日志文件
• 管理配置工具
驗證
這是《生產(chǎn)質(zhì)量管理規范（GMP）》和其它法規要求所必須的。 LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗證程序，可滿(mǎn)足安裝驗證（IQ）和運行驗證（OQ） 所需。

簡(jiǎn)單易用的軟件 簡(jiǎn)化您的日常工作
導航輪 顯示和導出數據僅需點(diǎn)擊 1 次。
比以往更高效的粒度分析
LS 13 320 XR 軟件的功能界面更加直觀(guān)，非常易于使用，您無(wú)需具備大量的操作知識便可輕松獲得準確 的數據。
開(kāi)始測量
檢測方法一旦在LS 13 320 XR軟件中設定，僅需點(diǎn)擊2次便 可開(kāi)始測量。選擇預先設定的方法，編輯樣品信息，然后點(diǎn) 擊開(kāi)始測量。
儀器自檢
儀器配備有自檢診斷功能，測試過(guò)程中隨時(shí)顯示測量情況。
自動(dòng)合格/不合格管理，實(shí)現直接質(zhì)控
為檢驗樣品合格/不合格，LS 13 320 XR軟件自動(dòng)對測量結果 標注綠色或紅色，提示其是否符合所需規格。因此，無(wú)論操 作人員經(jīng)驗如何，均可通過(guò)該功能迅速了解樣品質(zhì)量情況。
導航輪
顯示和導出數據僅需點(diǎn)擊 1 次。

重磅創(chuàng )新 幫助您準確測量細微差異
細節尤為重要！樣本間極細微的差異，會(huì )導致成品間出現巨大差異。 這也是為什么 LS 13 320 XR 激光衍射粒度分布分析儀采用 132 枚檢測器的原因，其可以提供更高的分辨率，獲得更 準確的檢測結果，同時(shí)實(shí)現 10 nm - 3500 µm 的寬范圍測量。
X-D陣列檢測器 - 確保高分辨率的準確測量
• 特殊設計X型對數排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，獲得 真實(shí)準確的粒度分布
• 132枚檢測器能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，快速、準 確的提供真實(shí)粒度分布
• 優(yōu)化的檢測器信噪比，大大提高了檢測到散射光強譜圖細微變化的能力
• 亞微米檢測區域，應用6枚檢測器對三種不同波長(cháng)的光在垂直和水平偏振 方向上進(jìn)行36個(gè)單獨檢測，提供納米級顆粒優(yōu)異的準確性和高分辨率

多峰樣品自動(dòng)檢測，更放心
• 憑借業(yè)界出眾的技術(shù)，無(wú)需預估樣品峰 型，無(wú)需選擇分析模型，輕松準確分析 多峰樣品，讓您對測試結果更放心
• 準確性誤差優(yōu)于±0.5%
• 重復性誤差優(yōu)于±0.5%

重磅創(chuàng )新 真正實(shí)現納米級測量
創(chuàng )新不止，重磅升級，基于升級版PID技術(shù)，LS 13 320 XR真正實(shí)現納米 級測量，提供亞微米顆粒更高分辨率的粒度分析，下限可準確檢測至 10nm！
PIDS技術(shù)：偏振光強度差散射
傳統方法測量亞微米顆粒的散射光強譜圖在形狀和強度 上都非常相似，區分比較困難，因此當測量亞微米顆粒 時(shí)，由于分辨率低而造成不準確的粒度測量。
而亞微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射 譜圖，而這些差異便是亞微米顆粒識別的重要信息。 PIDS技術(shù)采用了3種不同波長(cháng)的光順次照射樣品，首先 為垂直偏振，然后為水平偏振，通過(guò)分析每個(gè)波長(cháng)的水 平和垂直輻射光之間的差異，便可獲得亞微米樣品準確 的粒度分布信息。升級版PIDS技術(shù)從光源到濾波器 再到檢測器都進(jìn)行了全面的升級，使得測量亞微米顆粒 的動(dòng)態(tài)范圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。